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氧氣電漿處理低介電系數(shù)材料好么

發(fā)布日期:2019-11-26 作者: 點(diǎn)擊:

氧氣(英文氧氣或雙氧,分子式為O2)是氧的常見(jiàn)元素形式。氧氣是空氣的成分之一,無(wú)色,無(wú)味,無(wú)味。氧氣廣泛用于醫(yī)療,化學(xué)和航空航天等各種行業(yè)。今天,我將介紹高純度氧氣(O2)等離子體處理對(duì)多孔低介電系數(shù)材料的影響。

主要研究?jī)?nèi)容是討論氧氣(O2)等離子體處理對(duì)多孔低介電常數(shù)材料的影響,可分為以下五個(gè)部分。

一部分是分析氧等離子體處理后不同的低介材料(low-k)的降解。介電系數(shù)(k)為2.5至3.0。氧等離子體處理后的低k材料由于形成Si-OH鍵,介電常數(shù)增加。當(dāng)用氧等離子體處理?yè)诫s有有機(jī)聚合物(Porogen)的低介電常數(shù)材料時(shí),會(huì)形成更多的Si-OH鍵以形成電介質(zhì)??煽啃院涂煽啃韵陆担⑶覔诫s有有機(jī)物的低介電常數(shù)材料聚合物,然后進(jìn)行紫外線(UV)輻射處理,其介電常數(shù)可能較低,但其電性能和可靠性可能會(huì)降低;但是,通過(guò)He / H2遙控等離子體處理的低介電常數(shù)材料能夠有效減少氧等離子體的損害,因?yàn)樗梢詼p少等離子體中離子轟擊的影響并使表面更致密。

二部分主要研究了多孔低k介電材料對(duì)具有不同RF功率,處理時(shí)間和氣體流量的氧等離子體處理后薄膜的特性,電性能和可靠性的影響。實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明,在等離子體處理之后,將在膜表面上形成表面改性層。當(dāng)增加射頻功率和處理時(shí)間時(shí),表面改性層的厚度較高,而當(dāng)氣流減少時(shí),表面改性層的厚度也相對(duì)較高,這意味著對(duì)多孔性的破壞較低通過(guò)氧等離子體處理的介電常數(shù)材料將隨著射頻功率和處理時(shí)間的增加而增加,并隨著氣體流量的增加而減少。氧等離子體中的離子轟擊破壞易碎鍵并形成與水蒸氣有關(guān)的Si-OH鍵,其低極性Si-CH3鍵將被還原,從而使薄膜從疏水性變?yōu)橛H水性,介電常數(shù)As結(jié)果,膜的機(jī)械強(qiáng)度,電性能和可靠性變差,并且變化幅度隨著RF功率和處理時(shí)間的增加而增加,并且隨著氣體流量的增加而減小。

三部分使用專門設(shè)計(jì)的功率屏蔽結(jié)構(gòu)來(lái)研究低介電常數(shù)薄膜被等離子體中的離子,光子和自由基降解的程度。實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明,等離子體中的所有成分都將引起較低的介電常數(shù)。此外,自由基,光子和離子所造成的破壞將更加嚴(yán)重。

四部分是討論在氧等離子體過(guò)程中低k膜對(duì)互連鑲嵌溝槽結(jié)構(gòu)的側(cè)壁和底層的影響。我們將設(shè)計(jì)一個(gè)簡(jiǎn)單的溝槽結(jié)構(gòu)來(lái)模擬實(shí)際的溝槽結(jié)構(gòu)。實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明,在氧等離子體處理之后,溝槽結(jié)構(gòu)中的側(cè)壁膜和底部膜的電學(xué)和可靠性將變差,并且溝槽結(jié)構(gòu)中的側(cè)壁膜的損害比底部膜的損害小。同時(shí),當(dāng)溝槽的寬度減小時(shí),氧等離子體對(duì)側(cè)壁膜和底膜的損害將減少,這是因?yàn)檠醯入x子體成分流過(guò)的情況較少。因此,在相同的等離子體處理和低k膜條件下,當(dāng)溝槽結(jié)構(gòu)的寬度變窄時(shí),不會(huì)導(dǎo)致膜的更多劣化。

五部分是使用HF溶液去除膜的表面改性層,并分析表面改性層的影響。實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明,由氧等離子體處理的膜產(chǎn)生的表面改性層將使膜特性劣化,但是當(dāng)表面改性層被蝕刻時(shí),其膜特性,電性能和可靠性將與之前相同。氧等離子體處理的膜具有相似的特性。

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